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    Sensors: Proceedings of the Third National Conference on Sensors, February 23-25, 2016, Rome, Italy
    edited by Bruno Andò, Francesco Baldini, Corrado Di Natale, Giovanna Marrazza, Pietro Siciliano
    Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2018
    Online Sammelwerk, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    Springer Engineering 2018 (Volltext)
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    Nanoelectronic Materials and Devices: Select Proceedings of ICNETS2, Volume III
    edited by Christophe Labbé, Subhananda Chakrabarti, Gargi Raina, B. Bindu
    Singapore: Springer Singapore, Imprint: Springer, 2018
    Online Sammelwerk, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    Springer Engineering 2018 (Volltext)
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    Sensors and Microsystems: Proceedings of the 19th AISEM 2017 National Conference
    edited by Alessandro Leone, Angiola Forleo, Luca Francioso, Simona Capone, Pietro Siciliano, Corrado Di Natale
    Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2018
    Online Konferenzschrift, Sammelwerk, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    Springer Engineering 2018 (Volltext)
    Volltext
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    Proceedings of the International Conference on Nano-electronics, Circuits & Communication Systems
    edited by Vijay Nath
    Singapore: Springer Singapore, Imprint: Springer, 2017
    Online Sammelwerk, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    Springer Engineering 2017 (Volltext)
    Volltext
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    Frontiers in Electronic Technologies: Trends and Challenges
    edited by S.R.S Prabaharan, Nadia Magnenat Thalmann, V. S Kanchana Bhaaskaran
    Singapore: Springer Singapore, Imprint: Springer, 2017
    Online Sammelwerk, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    Springer Engineering 2017 (Volltext)
    Volltext
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Emerging Trends in Electrical, Communications and Information Technologies: Proceedings of ICECIT-2015
    edited by Kapila Rohan Attele, Amit Kumar, V. Sankar, N. V. Rao, T. Hitendra Sarma
    Singapore: Springer Singapore, Imprint: Springer, 2017
    Online Sammelwerk, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    Springer Engineering 2017 (Volltext)
    Volltext

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