Field Emission Scanning Electron Microscopy: New Perspectives for Materials Characterization
Singapore: Springer Singapore, Imprint: Springer, 2018
Online
Monographie, Elektronische Ressource
- 1 Online-Ressource (XII, 137 p. 53 illus., 20 illus. in color)
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Titel: |
Field Emission Scanning Electron Microscopy: New Perspectives for Materials Characterization
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Verantwortlichkeitsangabe: | by Nicolas Brodusch, Hendrix Demers, Raynald Gauvin |
Autor/in / Beteiligte Person: | Brodusch, Nicolas ; Demers, Hendrix ; Gauvin, Raynald |
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Verwandtes Werk: | |
Veröffentlichung: | Singapore: Springer Singapore, Imprint: Springer, 2018 |
Medientyp: | Monographie |
Datenträgertyp: | Elektronische Ressource |
Umfang: | 1 Online-Ressource (XII, 137 p. 53 illus., 20 illus. in color) |
ISBN: | 9789811044335 |
DOI: | 10.1007/978-981-10-4433-5 |
Schlagwort: |
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Sonstiges: |
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