Study of Excess Electronic Recoil Events in XENON1T

by Evan Shockley

1st ed. 2021. - Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2021

Online Monographie, Elektronische Ressource - 1 Online-Ressource (X, 119 p. 78 illus., 77 illus. in color)

Zugriff:

Springer Physics & Astronomy 2021 (Volltext)

Titel:	Study of Excess Electronic Recoil Events in XENON1T
Verantwortlichkeitsangabe:	by Evan Shockley
Autor/in / Beteiligte Person:	Shockley, Evan
Lokaler Link:	Springer Physics & Astronomy 2021 (Volltext)
Link:	Volltext
Verwandtes Werk:	Springer Theses, Recognizing Outstanding Ph.D. Research
Ausgabe:	1st ed. 2021
Veröffentlichung:	Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2021
Medientyp:	Monographie
Datenträgertyp:	Elektronische Ressource
Umfang:	1 Online-Ressource (X, 119 p. 78 illus., 77 illus. in color)
ISBN:	9783030877521
DOI:	10.1007/978-3-030-87752-1
Schlagwort:	Nuclear physics Astrophysics Elementary particles (Physics) Quantum field theory Physical measurements Measurement
Sonstiges:	Online-Ressource [Kann nicht per Fernleihe bestellt werden!] Gesamttitelangabe: Springer Theses, Recognizing Outstanding Ph.D. Research Printed edition: 9783030877514 Printed edition: 9783030877538 Printed edition: 9783030877545 hbz Verbund-ID: HT021133186

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